NI半导体技术研讨会深圳站·攻克量产和成本两大难关

时间: 10-13 13:30 - 17:00
地点: 深圳 - 银河风云大厦1楼(物联网咖啡馆)

活动内容 [活动纠错]

物联网时代增速、IC全球化竞争、电子行业的整合让整个电子行业倍感压力,及算巨头企业也在如此快速的迭代现状下出现资源短缺、新产品上市难等困境,而作为传统电子企业更是无力,而我们今天所要讲的是如何在IC、芯片、模组的测试上“搞事情”。

工程师开发讲究的就是一个“质”和“速”,而往往能把握住这两点的面对的都是巨额的测试成本和量产化困境,实验室和量产测试中的传统ATE系统,却不能很好地扩展满足到当今半导体产业不断变化的需求,加大了商业风险,俗话说:“设计很“丰满”,测试很“骨感”,玩转半导体绝非凭借个人能力,有效借助平台及前者经验往往事半功倍,在“2017 NI半导体技术研讨会”上我们会讲到降低测试成本和上市时间的测试方案、RFIC、通信芯片、模组和全新的软件架构测试平台等技术内容,NI技术专家邀您同桌畅谈。

时间:10月13日  13:30-16:30(签到时间为:13:30-14:00)

地址:深圳南山区科技园北区新西路5号(银河风云大厦1楼-物联网咖啡)

论坛议程(主讲人:NI技术部总监及NI中国区副总监)

更多亮点

本次论坛将提出的精彩技术案例应用及行业大趋势的分析:如下

1、如何基于平台化解决方案及生态系统快速打造物联网测试,监测应用

2、未来物联网无线测试系统-从蓝牙/RF到IoT测试方案

3、从研发到产线测试完整NFC

4、一步跨越从研发到量产-NI半导体解决方案

5、数据采集发展趋势及关键技术应用

6、基于PXI构建自动化测试系统

7、基于PXI平台毫米波系统方案

8、PXI动手课程&PXI自选实验站

业界最顶尖的应用测试平台方案

智能测试平台区

如今的智能设备复杂性和集成度上升,需要用更智能的系统进行测试。NI采用平台化的方法实现智能测试,充分利用开放的软件,灵活的模块化仪器和充满活力的生态系统帮助工程师提高测试效率,降低测试成本。

物联网及消费电子应用

物联网时代各种智能产品百花齐放,面对纷繁众多的测试任务,无论是面向物联网协议测试,还是智能硬件设备自动化测试,NI的平台将进一步为物联网和消费电子提供便利。

射频与无线通信应用

NI业界领先的射频技术,满足从最新5G技术研发到大规模产线测试的要求。而重新定义射频仪器的第二代矢量信号收发仪以1GHz带宽技术持续为业界加码,更好地支持各种复杂射频无线测试任务。

半导体测试应用

NI提供从实验室研发到量产测试的半导体解决方案,采用统一的软硬件架构通用的方法,提升数据关联性,缩短上市时间。

汽车电子应用

如今的汽车电子加入了越来越多的创新技术,如ADAS,车载雷达,互联驾驶等,NI为汽车电子领域提供了众多方案,为V型模型从开发到产测的全面技术保障。

国防及科研应用

NI利用PXI平台,采用灵活的方法,为国防和科研任务作出保障,加速科研创新。

客户服务区

NI工程师现场为您提供技术维修服务咨询和优化的客户培训课程,确保仪器的使用寿命完全满足您的需求。

NI(美国国家仪器)平台测试方案优势

NI的平台化方法可以最大化利用统一的平台提升实验室和量产测试的数据关联,打通从实验室到量产测试的鸿沟!降低测试成本,加快上市时间,将不再是难题!

NI为量产测试而打造的STS(半导体测试系统),对接行业标准,为量产测试添砖加瓦提升测试速度!

无论是规划、开发、部署还是后续维护, NI在应用生命周期的每一个阶段均为世界各地的客户提供了满足其需求的产品服务、培训和认证计划以及专业服务。

在统一的平台下,NI模块化的仪器和开放灵活的软件是一切的基石,极广的信号覆盖(从DC到毫米波),顶级的射频及混合信号仪器,天然的并行测试特性,如此高性能平台已经为全球范围内多家客户带来了福祉。

此前,NI已宣布与卓胜微达成战略合作。作为国内领先的射频芯片供应商,卓胜微希望借力NI的高性能射频仪表以及软硬件的开放性和灵活性提高射频开关(RF Switches)的量产效率,提升产品质量。当然,此次战略合作RF Switches测试只是一个开始,卓胜微计划将NI量产测试方案逐渐拓展到其他产品线,例如PA、LNA、Bluetooth/BLE SoC等。

注:活动限半导体行业相关工作人员参加(限额80人),因主办方将进行人员筛选,请认真填写报名信息,信息填写不完整及行业属性不相关者,不在邀请范围内,请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。